掃瞄式探針顯微鏡系列
廠牌(供應商):泛達科技有限公司
描述
用途/功能
具有接觸式模式,輕敲式模式,相位模式,磁力模式,電力模式,掃描隧道顯微鏡等功能與能譜測量分析功能(AFM Spectroscopy)包括:(a)單點式力場曲線(b)全面式力場曲線(c)自定義式力場曲線
重要規格
具有接觸式模式,輕敲式模式等功能且使用不同設備有以下解析度大掃瞄著器XY掃描範圍90μm±10%與X方向之解析為0.977 nm,Z方向之解析為0.116 nm小掃瞄器XY掃描範圍9 μm± 10%與X方向之解析為 0.977 nm,Z方向之解析為0.03nm 電力模式可解析10mV,橫向解析<30nm磁力模式水平可解析<100nm掃描隧道顯微鏡I-V圖:測量單一位置之電流隨電壓之變化 ·電壓可從-10V到10V · I-S圖 ;測量點一位置電流隨距離之變化。